Labthink蘭光 | 薄膜測厚儀產品介紹

　　Labthink蘭光生產與供應薄膜測厚儀，歡迎您咨詢薄膜測厚儀的詳細信息！Labthink蘭光供應的薄膜測厚儀有不同的型號，不同型號的薄膜測厚儀應用范圍與功能會有細微的差別，我們將會為您提供*、全面的薄膜測厚儀方案。Labthink蘭光，致力于通過包裝檢測技術提升和實驗室檢測儀器研發(fā)幫助客戶應對包裝難題，助力包裝相關產業(yè)的品質安全。了解關于更多相關信息，您可以登陸濟南蘭光機電技術有限公司網站查看具體信息或致電咨詢。Labthink蘭光期待與行業(yè)中的企事業(yè)單位增進技術交流與合作。

C640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。

C640測厚儀設備技術特征：
1、專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學的結構布局及專業(yè)的控制技術，實現(xiàn)*測試穩(wěn)定性、重復性及精度。
2、高效——采用高效率、自動化結構設計，有效簡化人員參與過程；智能的控制及數(shù)據處理功能，為用戶提供更便捷可靠的試驗操作和結果處理。
3、智能——搭載Labthink新一代版控制分析軟件，具有友好的操作界面、智能的數(shù)據處理、嚴格的人員權限管理和安全的數(shù)據存儲；支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據盾系統(tǒng)（可選配置），為用戶提供極為安全可靠的測試數(shù)據和測試報告管理功能。

測試原理：
將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

C640測厚儀執(zhí)行標準：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產質量管理規(guī)范》（GMP）對軟件的有關要求（可選配置）

應用材料：
基礎應用：
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定
紙——各種紙張、紙板、復合紙板等的厚度測定
擴展應用：
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定
紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定
非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、kou罩等的厚度測定
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定

C640測厚儀技術指標：
① C640M型號參數(shù)：
測試范圍（標配）：0～2mm
分辨率：0.1μm 
重復性：0.8μm
測量范圍（選配）：0～6、0～12mm
測量間距：0～1000mm（可設定）
進樣速度：1.5～80mm/s（可設定）
附加功能：
自動進樣機：可選配置
DataShieldTM數(shù)據盾：可選配置
GMP計算機系統(tǒng)要求：可選配置
測量方式：機械接觸式
測量壓力及接觸面積：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
凈重：26kg
② C640H型號參數(shù)：
測試范圍（標配）：0～2mm
分辨率：0.1μm 
重復性：0.4μm
測量范圍（選配）：0～6、0～12mm
測量間距：0～1000mm（可設定）
進樣速度：1.5～80mm/s（可設定）
附加功能：
自動進樣機：可選配置
DataShieldTM數(shù)據盾：可選配置
GMP計算機系統(tǒng)要求：可選配置
測量方式：機械接觸式
測量壓力及接觸面積：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
凈重：26kg

CHY-C2A測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度高精度測量。

CHY-C2A測厚儀技術特征：
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據一致性
系統(tǒng)支持數(shù)據實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據查看
標準的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告

執(zhí)行標準：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2A測厚儀技術指標：
負荷量程：0～2 mm（常規(guī)）
0～6 mm；12 mm （可選）
分辨率：0.1 μm
測量速度：10 次/min （可調）
測量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg

儀器配置：
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機